LPKF ProtoLaser U4

LPKF ProtoLaser U4

LPKF ProtoLaser U4

Có khả năng sử dụng phổ quát trong phòng thí nghiệm

. Hoạt động trực quan

. Phạm vi xử lý rộng nhờ Laser UV

. Hệ thống quan sát

. Đo lường đầu ra ở mức lớp nền

ProtoLaser U4  –  Gia công vi mô với LPKF ProtoLaser U4

LPKF ProtoLaser U4 được xây dựng dựa trên kinh nghiệm phong phú của chúng tôi với nhiều loại ứng dụng và mở ra một cửa sổ quy trình thậm chí còn rộng hơn so với các thiết bị tiền nhiệm của nó.

Gia công cỡ Micro trong phòng thí nghiệm

Nguồn laser UV như một công cụ đa năng

LPKF ProtoLaser U4 sử dụng tia laser dẫn đường bằng máy quét có bước sóng 355 nm trong quang phổ UV, được phát triển đặc biệt để sử dụng trong các phòng thí nghiệm điện tử. Bước sóng này giúp nhiều nhóm vật liệu có thể được xử lý hoàn hảo bằng tia laser mà không cần thêm công cụ, mặt nạ hoặc phim.

Các trường quét đặt cạnh nhau dẫn đến phạm vi làm việc lên tới 229 mm x 305 mm x 10 mm. Tiêu cự của tia  laser với đường kính xấp xỉ. 20 µm cho phép các gia công mạch cỡ  65 µm (chiều rộng mạch 50 µm, cách nhau 15 µm) với FR4 với 18 µm Cu.

Phần mềm hệ thống mạnh mẽ

Phần mềm hệ thống LPKF CircuitPro PL thân thiện với người dùng cho phép truy cập vào tất cả các thông số quy trình quan trọng. Một thư viện tham số toàn diện không chỉ bao gồm nhiều tài liệu phổ biến mà cả những tài liệu hiếm được cung cấp hỗ trợ cho các dự án của chính người vận hành.

Ổn định trong dải năng lượng thấp

Các quá trình tinh xảo, nhạy cảm cần rất ít năng lượng laser. Nguồn laser UV mới được thiết kế phù hợp và ổn định với dải công suất rộng. Điều này mang lại lợi ích cho các ứng dụng có lớp đặc biệt vật liệu mỏng Vf tinh xảo.

Theo dõi quá trình

Trường đo công suất xác định công suất thực của tia laser khi ở vị trí tiêu cự. Điều này dẫn đến dữ liệu thực tế chính xác để ghi lại quá trình sản xuất.

Hệ thống quan sát

LPKF ProtoLaser U4 sử dụng hệ thống quan sát nhanh, được thiết kế mới được tối ưu hóa cho gia công laser siêu nhỏ. Máy ảnh và quy trình nhận dạng hình ảnh ghi lại các định vị hình học hoặc cấu trúc hình học trên đế được xử lý.

Catalogue sản phẩm

Tải xuống

Tải xuống

icon download Tải xuống PDF